探针卡(probe card)是半导体工艺历程中晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,,,,其使用原理是将探针卡上的探针与芯片上的焊垫(pad)或凸块(bump)直接接触,,,,导出芯片讯号。。。。。。再配合周边测试仪器与软件控制抵达自动化量测晶圆。。。。。。
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